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書誌情報サマリ

書名

LSI故障解析技術のすべて 

著者名 二川 清/著
著者名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者 工業調査会
出版年月 2007.11


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No. 所蔵館 配架場所 資料種別 資料番号 請求記号 帯出区分 状態 貸出
1 中央館閉架書庫B一般図書0118117888549.7/ニカ/帯出可在庫 

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書誌詳細

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タイトルコード 1009810900652
書誌種別 図書
著者名 二川 清/著
出版者 工業調査会
出版年月 2007.11
ページ数 221p
大きさ 21cm
ISBN10 4-7693-1269-7
ISBN13 978-4-7693-1269-7
分類記号 549.7
書名 LSI故障解析技術のすべて 
書名ヨミ エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ
副書名 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
内容紹介 LSIの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。



目次


内容細目

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